CX-118A型晶振測試儀，PPM測試儀，貼片晶振測試儀，插件式晶振測試儀

1．概述

CX-118A型插件式晶振測試儀使用微處理器技術，實現(xiàn)了智能化測量。本插件式晶振測試儀系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術實現(xiàn)等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數(shù)等功能；中心頻率（標稱頻率）F0、分檔值Pr1～Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。CX-118Ａ插件式晶振測試儀特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。

2．CX-118A插件式晶振測試儀主要特征

2．1 本機采用倒數(shù)計數(shù)技術，測量精度高，測量范圍寬，真正實現(xiàn)等精度測量，測量速度快，靈敏度高。

2．2 采用單片微機技術進行周期頻率測量和智能化管理，使得儀器具有很高的可靠性和優(yōu)良的性能／價格比。

2．3 整機采用大規(guī)模集成電路設計，CPLD器件的運用，使儀器元器件大為減少，可靠性有了很大的提高，平均無故障工作時間≥10000h。

整機外型美觀大方，體積小，重量輕，使用方便。

3．技術參數(shù)

 3.1 測量范圍

頻率測量：A通道:1Hz～100MHz；

B通道:100MHz～1.6GHz(選件)

• 周期測量：A通道:10ns～1s

• PPM測量：-9999～9999ppm

• 上、下限測量：可根據(jù)用戶所設定的上限參數(shù)FU、下限參數(shù)FL來測量被測頻率是否超出上、下限，超限則報警。

• 分檔測量：根據(jù)用戶所設定的中心頻率F0自動進行分檔測量。 分檔值：Pr1～Pr8可在1～999ppm之間任意設置

分檔檔數(shù)：以中心頻率F0為中點左右分成16檔

• 累加計數(shù)：計數(shù)容量：0～109－1 (選件)

計數(shù)方式：鍵控、門控或外門控可選。

3.2 輸入特性

輸入阻抗：A通道: 1MΩ//40pF

B通道: 50Ω

3.2.2 輸入耦合方式：AC

3.2.3 波形適應性：正弦波、脈沖波

輸入電壓動態(tài)范圍:

A通道：30mVrms～250Vp～p

B通道: 30mVrms～1Vrms

3.2.5 A通道低通濾波器：－3dB 帶寬約100kHz

3.2.6 A通道衰減：×1或×20

3.3 測量誤差

3.3.1 頻率或周期測量誤差：±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD

100ns

其中：LSD＝─────×被測頻率（或被測周期）

閘門時間

觸發(fā)誤差：當被測信號的信噪比為40dB時，觸發(fā)誤差≤0.3%

PPM測量誤差：±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD

其中：LSD＝(100ns/閘門時間)×106ppm

例如：閘門時間=1s時 LSD＝0.1ppm

閘門時間=0.1s時 LSD＝1ppm

3.3.3 計數(shù)誤差：±1

3.4閘門時間

固定閘門：10ms、100ms、1s、10s 四檔可選；

可調(diào)閘門：50ms～95ms 分10檔，每檔間隔5ms。

3.5 晶體振蕩器

標稱頻率：10MHz

頻率穩(wěn)定度：5×10-6/d

（可根據(jù)用戶需求，選配更高量級的晶振。

如：1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等）。

3.6 外頻標輸入

輸入頻率：10MHz

輸入幅度：>1Vp～p 正弦波

3.7 顯示

13位0.4吋綠色高亮數(shù)碼管，三個單位LED指示燈（MHz、kHz、Hz），一個閘門LED指示燈(GATE)，一個外頻標LED指示燈(EXT)和一個PPM單位指示燈（PPM）。

3.8 電源

電壓：交流220V±10%

頻率：50Hz±5%

功耗：<8VA

3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)

3.10 質(zhì)量：<1.5kg

JC-3195A高精度晶振測試儀

特點：1．測量中頻1～60MHz石英晶體諧振頻率、等效電阻。

 2．第四代升級產(chǎn)品，電調(diào)諧、新器件，新型測試插座更實用。

 3．諧振頻率、等效電阻全數(shù)顯，激勵功率可調(diào)。精度高，測速快。

 4．頻率測量精度≤5PPM，可選配更高精度頻標。

 5．可選配帶PPM誤差顯示和頻率分檔分選的十三位頻率計。

性能指標：

□　測頻范圍：1～60MHz。

□  電阻測量范圍：1～500Ω。

□  激勵功率可調(diào)范圍：1～1200μW。

□  可調(diào)負載電容：12～50PF。  

□  八位頻率顯示。

□ 四位PPM顯示，頻率上下限、200檔分檔分選。

□ 上下限頻率分別設置，超出范圍（不合格）時自動聲光報警。  

JC-3195A高精度晶振測試儀 詳細資料

1． 概述

       深圳創(chuàng)鑫JC-3195A高精度晶振測試儀是用于測量石英晶體串聯(lián)諧振電阻Rr、串聯(lián)諧振頻率fs、負載諧振頻率fL和負載諧振電阻RL（機內(nèi)帶可調(diào)負載電容12.5pF～50pF，且等效電阻和諧振頻率直接讀數(shù)，激勵功率可調(diào)）。

測量插座適合晶體引線寬度3.75~14.50mm。  

2．JC-3195A高精度晶振測試儀 技術參數(shù)      

2．1  頻率范圍： 1 ~ 60 MHz     

        頻段劃分： 1       1 ~ 2.2 MHz

                         2        2.2 ~ 5 MHz 

                         3        5 ~ 10 MHz     

                         4       10 ~ 20 MHz     

                         5       20 ~ 40 MHz    

                         6       40 ~ 60 MHz    

 2．2  測量網(wǎng)絡的終端電阻：源端 24 Ω；負載端 27 Ω。

 2．3  起振電阻范圍：

                           1 ~ 10 MHz起振電阻范圍為0 ~ 500 Ω；

                          10 ~ 60 MHz起振電阻范圍為0 ~ 100 Ω。

 2．4  阻值讀數(shù)范圍：  

                          0 ~ 1999.9 Ω  誤差±(10+頻率MHz為單位時/10)%。

 2．5  激勵功率范圍： 1.5 ~ 1200μW  誤差±25%    

 2．6  負載電容范圍： 12.5~50pF   

 2．7  頻率計測量準確度： 5 PPM。

2．8  頻率計數(shù)字顯示： 8位。

2．9   時基穩(wěn)定性：   短期：1×10 ^–7 /秒     長期：2×10 ^–5 / 月。

               [可選配高穩(wěn)定度的恒溫晶振（1~5）×10 ^–8／日]。

 2．10 JC-3195A高精度晶振測試儀使用環(huán)境： a．環(huán)境溫度：20℃±2℃；

                                                                   b．相對濕度：（45 ~ 75）%；

                                                                   c．大氣壓強：86 ~ 106 kPa；

                                                                   d．避免外電磁場干擾，避免陽光直射。

 2．11 **組別：屬GB4793《電子測量儀器**要求》中Ⅱ類**儀器。

 2．12 使用電源：220 V ± 2 %，50 Hz±1%。

 2．13 連續(xù)工作時間：8小時。

 2．14 消耗功率：小于25 W。

 2．15 外形尺寸：380 mm（寬） X150 mm（高） X290 mm（深）。

 2．16 重量： 約7 kg